預燒 (burn-in) 是半導體測試流程的一個步驟，將待測品放進預燒爐 (burn-in oven) 中，在高溫高壓的環境下檢測產品功能。
* 容量限制：預燒爐每次操作可以檢測一個或多個待測品，但一次操作的待測品的批量總和不可超過預燒爐容量上限。
* 預燒時間：預燒爐每次操作的時間為該批次中待測品的最長預燒時間，一旦開始就不能中間加入或取出待測品，即同一次操作的待測品會同時進入預燒爐，也同時離開預燒爐。

給定一台預燒爐，其最大容量上限為 $Q$。有 $N$ 個待測品，已知各待測品的優先順序 ($p_i$)、批量 ($s_i$) 和預燒時間 ($t_i$)。首先將所有待測品依優先順序由小到大排序，在此順序的前提下，將待測品分批，再將各批送入預燒爐檢測。請撰寫一個程式求取最佳分批方法，以在最短時間內檢測完所有待測品。

舉例來說，若預燒爐的容量為 $10$，且三個待測品的資訊如下：

可能的分批方式有：
* A | B | C：即每次操作只檢測一個待測品，總花費時間為 $1+5+6=12$。
* AB | C：第一批次檢測 A 和 B，第二批次檢測 C，總花費時間為 $\max{1,5}+6=11$。
* A | BC：第一批次檢測 A，第二批次檢測 B 和 C，總花費時間為 $1+\max{5,6}=7$。
* ABC：全部放在同一批，但因批量總和 $4+5+3=12$ 超過容量上限 $10$，此分批不合法。

因此在所有合法的分批方式中，檢測完所有待測品的最短時間是 $7$ 單位時間。